MPCVD

使用 微波電漿化學氣相沉積 (MPCVD) 在 2″ 矽基板上鍍鑽石膜,主要用於高功率電子元件散熱(如矽基板上直接長鑽石,Diamond on Silicon wafer)。此製程因矽與鑽石晶格不匹配與熱膨脹係數差異極大,需透過嚴謹的「成核」與「沉積」步驟來避免薄膜剝落。

Microwave 2.45GHz 6kw+ 磁控頭
Model MP12006
鍍膜面積φ2”
真空系統真空腔體不鏽鋼圓柱形(水冷)
油迴轉泵浦<7.5mTorr(1Pa)
工作壓力4-8Torr
腔體漏洩率<1×10-8 Pa*m3/s
載台直徑2” (水冷)
微波系統工作頻率2.45GHz
微波源Sairem, 磁控頭
輸出功率0.6 – 6KW
氣體系統質量流量計4 組
測溫儀測溫方式紅外線測量(250-1400℃)
測溫範圍250-1400℃
Controlling控制方式PLC+觸控螢幕
尺寸WXDXH1450mmx1350mm x2000mm
Weight700 KG

利用固態微波源(Solid-State Microwave Source)驅動的微波電漿化學氣相沉積(MPCVD)系統,是目前培育高品質鑽石膜(Diamond Thin Films)的主流技術。此技術利用固態功率放大器取代傳統的磁控管,提供極高頻率穩定度與連續可調的輸出功率,以激發反應氣體產生高密度電漿,進而在基材上進行奈米或微米級的鑽石晶體沉積。

Microwave 2.45GHz 6kw 固態微波源

Model MP22006
鍍膜面積φ2”
真空系統真空腔體不鏽鋼圓柱形(水冷)
油迴轉泵浦<7.5mTorr(1Pa)
工作壓力4-8Torr
腔體漏洩率<1×10-8 Pa*m3/s
載台直徑2” (水冷)
微波系統工作頻率2.45GHz
微波源固態微波源
輸出功率0.1 – 6KW
氣體系統質量流量計4 組
測溫儀測溫方式紅外線測量(250-1400℃)
測溫範圍250-1400℃
Controlling控制方式PLC+觸控螢幕
Power supplyAC380V/12KW
尺寸WXDXH1900mm x 800 mm x 1900mm
Weight900 KG